AX-221N

数位LCR检测计

搭载数位比较器以LED显示[LO][GO][HI]

 

●测定范围:  L・・・0.1μH~199.9H

C・・・0.1pF~1999μF

R・・・1mΩ~1999kΩ

D・・・0.001~1.999

●L、C、R、D、3位半LED显示

●取样时间: 约10次/秒

   (自动档位切换时间: 1 STEP 100 msec.)

●L、C、R、D,类比电压输出(全刻度DC 2V)

 

The Outline

AX-221N数位LCR检测计的应用可从线圈,电容器,电阻器等电子零件,

到开闭,继电器等接触电阻的测量或针对电池的内阻一级半导体

接面电容等测定,对各种元件的量测都可简单地操作。

具备自动文件位及自动模式功能,可对未知测量値的待测物自动选定适当的档位并测定之。

另外,也可切换至手动,可缩短因档位切换所需花费的时间。

LCR测値除以3位半显示外,在L或C测定时,同时也以3位半显示D値(损失系数)。

由于测定値

以模拟电压等比输出,可连接于模拟纪录器、模拟比较器等使用。

 

OPTION

●BCD输出