120Hz/1kHz高速型数位C-tanδ检测计
使用于铝电解电容，钽质电容测定检查
●测定频率:120Hz/1kHz
●测定速度:23msec.
●测定范围:C 0～39.99mF/tanδ 0～199.9%
●GP-IB､RS-232C､Centronics输出(OPTION)
(可选择一种上述选配功能｡)
●Printer Cable(OPTION)
OPTION
●GP-IB ●RS-232C ●Centronics输出 ●Printer Cable
※可选择一种上述选配功能
AX-369B